絕緣電阻測試儀的電壓范圍和電阻量程是大部分工程師都會(huì )關(guān)注的參數，因為在進(jìn)行絕緣測試時(shí)，選擇正確的測試電壓和電阻量程，可以保證測試的安全性，獲得更準確的測試值。

　　

　　其實(shí)，還有一個(gè)參數對測試結果同樣有著(zhù)很大影響，卻經(jīng)常容易被使用者忽略，它就是—短路電流。短路電流在絕緣電阻測試時(shí)發(fā)揮著(zhù)什么樣的作用呢？我們先從絕緣測試的原理說(shuō)起：

　　

　　簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，絕緣電阻就是通過(guò)測量對被測設備施加電壓時(shí)流過(guò)設備的漏電流，再利用歐姆定律計算得到的值。但實(shí)際上，絕緣測試測量的【漏電流I總】由三個(gè)部分組成：

　　

　　1、I1電容電流：在加壓過(guò)程中，相當于給被測設備的電容充電，初始充電階段，電容電流較大，而后，電容電流將隨著(zhù)充電完成而衰減至零。

　　

　　2、I2吸收電流：在加壓瞬間到穩定過(guò)程中，由于介質(zhì)極化，電荷重新排列時(shí)形成的電流，也會(huì )隨著(zhù)穩定而衰減至零。

　　

　　3、I3泄漏電流：由于絕緣不良而產(chǎn)生的電流，一般維持不變，也是絕緣測試中關(guān)鍵的參數。

　　

　　在加壓初期，例如15s時(shí)，I1和I2的存在將會(huì )使整體的【漏電流I總】增大，從而導致測得的R15s比實(shí)際值小，無(wú)法體現真實(shí)阻值，并且過(guò)小的R15s也會(huì )使介質(zhì)吸收比R60S/R15S嚴重偏大，使工程師造成誤判。

　　

　　絕緣電阻測試儀的輸出短路電流的大小可反映出其內部輸出高壓源內阻的大小。較大的短路電流可以使電容充電過(guò)程更快，更早達到穩定。因此，電容電流I1和吸收電流I2會(huì )越快衰減至零，減少影響，然后得到的阻值也越接近于真實(shí)絕緣阻值。